VS Verlag für Sozialwissenschaften Spektralanalyse durch Messung des Interferenz-Kontrasts: 334 (Forschungsberichte des Wirtschafts- und Verkehrsministeriums Nordrhein-Westfalen, 334)

Es wird ein Meßyerfahren und Meßgerät beschrieben, mit dem der Interferenz kontrast eines Interferenzfeldes automatisch registriert werden kann. Aus der Registrierkurye kann die Linienform einer Spektrallinie oder die Struk tur einer einfachen Liniengruppe mit hoher Auflösung entnommen werden. Das Verfahren erreicht bei Linien großer Intensität gute Genauigkeit und hohes Auflösungsyermögen. Es eignet sich besonders zur Untersuchung von Einzel linien und eng benachbarten Dubletts. In dieser Arbeit wird das experimen telle Verfahren beschrieben und seine Leistungsfähigkeit diskutiert. Meß ergebnisse und die Theorie des Interferen~ontrastes sind an anderer Stelle ~] veröffentlicht. 11. Einführung Die spektrale Zusammensetzung des Lichtes pflegt man gewöhnlich zu ermit teln, indem man durch Anordnung von Prismen oder Interferenzgeräten das Licht verschiedener Wellenlänge räumlich trennt und Licht gleicher Wellen länge an bestimmten Stellen konzentriert. Es entsteht so das Spektrum der gewöhnlichen Spektrala~parate verschiedenster Konstruktion. Dieses Verfah ren ist auf einen hohen technischen Stand entwickelt und findet seine Gren zen in dem Auflösungsyermögen der Geräte. Es gibt nun einige spektrosko pische Probleme, z. B. die Analyse sehr enger Liniengruppen oder die Bestim mung der Linienform schmaler Linien, für deren Bearbeitung die normalen spektroskopischen Hilfsmittel nicht besonders geeignet sind und deshalb bedeutende apparative Anstrengungen erfordern, um ein möglichst hohes Auf lösungsyermögen zu erzielen. Gerade derartigen Problemen kann man aber auf einem ganz anderen Wege nahekommen.